[목차] == [[통계학]] 용어 == * 기초통계학에서, SEM이란 '''[[평균]]의 [[표준오차]]'''(standard error of the mean)의 약자이다. 때로 ''SE,,M,,'' 혹은 ''SE,,Mean,,'' 으로 표기하기도 한다. * 응용통계학에서, SEM이란 '''구조방정식 모형'''(structural equation modeling)의 약자이다. == [[현미경#s-4.2.1|주사식 전자 현미경]] == Scanning Electron Microscopy [[현미경]]의 일종으로, [[진공]]에 놓인 시료의 표면을 1~100 nm의 전자선으로 관측하는 현미경이다. 1965년 최초로 상품화되었다. SEM은 연구개발뿐만 아니라 첨단장비의 [[품질관리]]에도 유용하게 사용되고 있다. SEM의 컬럼부는 전자총, 집속렌즈와 대물렌즈, 주사코일로 구성되어 있다. 전자총은 전자빔을 발생시키고 가속시키는 부분, 집속렌즈와 대물렌즈는 전자빔을 가늘게 모아주는 부분, 주사코일은 전자빔의 경로를 조절하는 부분이다. [* [[https://www.cheric.org/PDF/PIC/PC13/PC13-1-0051.pdf|출처]] (2010, 주식회사 코셈 부설연구소) ] == [[S.E.M]] == 서브컬처의 [[아이돌마스터]] 관련 개념. 해당 문서 참조 [[분류:동음이의어/라틴 문자]]